更新日期：2024-09-23
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簡要描述：半導體芯片溫度沖擊箱區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆用斷熱結構。沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
半導體芯片溫度沖擊箱區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆用斷熱結構。沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
溫度沖擊箱的特點:
1、采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
2、設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆用斷熱結構。
3、沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
4、高溫沖擊或低溫沖擊時，大時間可達9999分鐘，大循環(huán)周期可達9999次。
5、系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
6、冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風冷式或水冷式兩種。
7、可連接電腦，記錄儀僅為選購件。
溫度沖擊箱的型號參數：
型 號 | TS-49（A～C） | TS-80（A～C） | TS-150（A～C） | TS-252（A～C） | TS-450（A～C） | |
內部尺寸W×H×D(cm) | 40×35×30 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×75×75 | |
外部尺寸W×H×D(cm) | 140×180×145 | 148×190×155 | 160×200×175 | 175×210×187 | 190×220×200 | |
溫度范圍（測試區(qū)） | (150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；(高溫區(qū)：+60℃～+150℃；低溫區(qū)-10℃～-65℃) | |||||
升溫時間(蓄熱區(qū)) | RT～200℃約需35min | |||||
降溫時間(蓄冷區(qū)) | RT～-70℃約需85min | |||||
溫度回復時間/轉換時間 | ≤5min內 / ≤l0秒內 | |||||
溫度控制精度/分布精度 | ±0.5℃/±2.0℃ | |||||
保溫材質 | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 | |||||
系統(tǒng) | P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調溫控制系統(tǒng) | |||||
冷卻系統(tǒng) | 半密閉式雙段壓縮機(水冷式)/全密閉式雙段壓縮機(風冷式) | |||||
安全保護裝置 | 無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關，冷媒高壓保護開關、故障警告系統(tǒng)，電子警報器 | |||||
配 件 | 觀視窗(特殊選購型)、上下可調隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架 | |||||
電 源 | AC380V 50Hz/60Hz 3 ∮ | |||||
重量(大約 | 700Kg | 900Kg | l200Kg | 1400Kg | 1900Kg | |
半導體芯片溫度沖擊箱的用途：
溫度沖擊箱又稱高低溫沖擊試驗箱，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經及高溫和及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，藉以在短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害，適用的對象包括金屬、塑料、橡膠、電子。。。等材料，可作為其產品改進的依據。
溫度沖擊箱檢驗保證：質量管理是一項用肉眼看不見的重要工作，于是本公司在所生產出來的冷熱沖擊試驗箱生產出來后，經內部調試、檢驗正常后，都會請第三校準單位進行上門校準，合格后、出證書。
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